PCB在线功能测试系统的主要制约因素就是其反向驱动器的吸收/施放电流能力过强，从而遮盖了被测芯片输入脚出现的故障现象。例如，大多数芯片的输入脚阻抗都很高（大于1兆欧姆），如果输入脚内部功能损坏，则该脚阻抗可能降低到大约20欧姆，这将导致驱动该输入脚的芯片产生扇出问题，从而出现电路故障，因为多数芯片只能驱动输出10毫安左右的电流。然而，一般的反向驱动测试仪器却能够驱动阻抗为20欧姆的输入脚，这就使本来输入脚出现故障的芯片也能通过功能测试。QT200能够驱动8欧姆以上的节点（小于8欧姆视为短路），这是Qtech系列检修设备系统的主要问题。
一、PCB在线检修的步骤
一般检修PCB的流程图
PCB常见器件种类：
1、门电路/组合逻辑型器件
如:7400,7408等
可使用ICFT,QSM/VI进行测试
2、时序器件/触发器、计数器
如:7474,7492等
可使用ICFT,QSM/VI进行测试
3、总线器件（三态输出）
如:74245,74244,74374等
可使用ICFT,QSM/VI进行测试
4、PAL,ROM,RAM
如:2764，14464
可使用ICFT进行测试
5、LSI器件
如:8255,8088,Z80等
可使用ICFT,QSM/VI进行测试
6、用户专用芯片
使用QSM/VI方式测试
PCB测试失败原因：
1、芯片功能损坏
2、速度/时序问题
3、芯片管脚状态（悬空,高阻,时钟,非法连接）
4、OC门线或状态
5、扇出问题
ICFT测试结果分类：
1、测试通过
2、测试失败
3、器件没有完全测试
4、器件比较相同
5、器件比较不相同
二、PCB在线功能测试出现不同测试结果的处理方法
1、出现“测试失败”结果时
1) 查看测试夹具是否接错了芯片，是否与被测芯片联接良好。从管脚状态窗口查看是否有开路管脚（显示HIZ），是否测出电源管脚。纠正这些问题后重新测试。
2) 如果结果仍然是“测试失败”，将鼠标移到管脚状态窗口后单击左键，使显示管脚阻抗。比较出现错误的管脚阻抗与另外相同功能的管脚阻抗。如果是芯片的某个输出脚出现测试错误，则查看该脚与其它输出脚的阻抗是否一致（注意此时的阻抗是芯片带电时测量的对地阻抗）。
3) 如果比较的阻抗大致相等，则调低测试时基或门限值，然后再测一遍。若这次测试通过，则说明该芯片出现的测试错误是时序方面的问题。这可能是输出脚接了电容器件，由于电容的放电过程，使输出脚状态翻转变慢。如果调整时基或门限值后的测试能够通过的话，可有90%的把握确定该器件没有损坏，此时即可转到测试下一个芯片。
如果调整时基或门限值后测试仍未通过，则检查是否需要设置隔离。若不需要隔离，则直接进入第5步。
4) 如果从夹具状态中看出测试失败的原因是由于输出脚不能达到正常的逻辑电平，则调低测试门限值后再测。如果此时以较松的门限值测试能够通过的话，则说明该芯片所接的负载过重，或者是芯片本身的输出驱动能力变差，不能吸收或施放正常负载所需的电流。出现这种情况时，用户必须特别注意，处理办法是在被测板加电和不加电两种状态下，重新测试该输出脚对地的阻抗，也可使用QSM/VI方式在被测板加电和不加电两种状态下，测试该芯片各输出脚的VI曲线。
5) 比较测出的各输出脚对地阻抗，如果不加电测量的阻抗大致相等，而加电时测量出现测试错误的输出脚阻抗高于其它输出脚的阻抗，则说明该芯片功能损坏（高阻抗状态不能吸收或施放所需电流），应更换该芯片。
6) 比较各输出脚的VI曲线，如果某个输出脚的阻抗明显低于其它输出脚的阻抗，则说明问题在该脚所接扇出负载上。检测与该脚相接的所有芯片输入脚的阻抗，找出其中真正的短路点。
为了进一步查出问题的根源，可用扁口钳钳断被测芯片上出现测试错误的输出脚，再重新测试。如果这时测试通过，就表明确实是芯片所接负载的问题。
2、出现“器件没有完全测试”结果时
1) 当被测芯片的输出脚在测试过程中不发生翻转（即在测试窗口中保持固定高或低电位）时，系统将提示“器件没有完全测试”（出现该提示时屏幕上的波形窗口并不标注任何测试错误）。例如一个7400与非门的某个输入脚短接到地，则对应的输出脚将始终为高电平，测试该芯片时将出现上述提示。
2) 如果用户有被测板的电路原理图，就能很容易地确定该芯片的管脚连接状态是否正常。
3) 如果用户已学习过好板，那么所学芯片的正常连接状态也将记录下来。测试坏板时系统自动与好板学习结果相比较，如果比较结果不同，则说明坏板出现非法连接；如果比较结果相同，则可不考虑“器件没有完全测试”的提示，转到测试下一个芯片。
4) 如果被测芯片是OC器件，并在电路上设计为“线或”状态 ，那么该芯片的输出可能会受到与其存PCB在线或关系的其它芯片的影响。例如，某个芯片的输入逻辑使其输出固定为低电平，则被测芯片的输出也将固定为低电平，这时测试该芯片系统也将提示“器件没有完全测试”。对此类器件用户应特别注意，建议使用QSM/VI方式，通过比较测试芯片上所有相同功能管脚的VI曲线，来判断故障点。
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